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晶圆允收测试效率提升

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摘要 随着半导体的发展,晶圆代工厂这种运行模式的广泛出现,就需要对晶圆代工厂生产出的产品制定验收标准。晶圆允收测试则是晶圆验收的重要指标。本文采用6寸晶圆代工厂的允收测试的标准浅谈提高晶圆允收测试效率。
作者 王淼 宁莉
出处 《黑龙江科技信息》 2014年第24期11-11,共1页 Heilongjiang Science and Technology Information
关键词 晶圆 WAT 允收测试
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