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国际半导体技术发展路线图(ITRS)2013版综述(4)
被引量:
2
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摘要
14 建模与模拟 14.1范围 建模与模拟技术覆盖被称为扩展TCAD的半导体建模区域,它是数个使能方法之一,可以减少开发周期和成本。本文中的扩展TCAD覆盖下列典型区域,如图MS1所示:
作者
黄庆红
黄庆梅
机构地区
工业和信息化部电子科学技术情报研究所
北京理工大学光电学院
出处
《中国集成电路》
2014年第12期13-28,49,共17页
China lntegrated Circuit
关键词
半导体技术
路线图
综述
国际
TCAD
模拟技术
开发周期
建模
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
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黄庆红(译),黄庆梅(校).
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.中国集成电路,2014,23(10):13-26.
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