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X-射线全谱拟合法测量钛白粉的晶粒度 被引量：3

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摘要 采用X射线粉末衍射(XRD)全谱拟合的方法测量了钛白粉样品的晶粒度。选择步进式扫描采谱、结合全谱拟合法程序Topas中的基本参数法(FPA)软件全谱拟合,计算得到晶粒度参数,并与X射线粉末衍射线宽法、扫描电镜(SEM)分析结果进行对比。综合分析认为,X射线全谱拟合法计算钛白粉晶粒度无需标样、操作简便、分析快速准确,可以作为钛白粉的质量控制方法。
作者 王乐 王永在 刘胜 许宏民 王克刚 孙计赞
机构地区 淄博出入境检验检疫局 山东理工大学
出处 《山东化工》 CAS 2014年第12期75-76,78,共3页 Shandong Chemical Industry
基金 山东检验检疫局科技项目(SK2012101)
关键词 X射线粉末衍射 全谱拟合 钛白粉 晶粒度
分类号 O434.13 [机械工程—光学工程]
  • 相关文献

参考文献5

二级参考文献11

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共引文献29

同被引文献23

引证文献3

二级引证文献10

山东化工
2014年 第12期

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