弥漫性轴索损伤的磁共振成像新技术研究进展

弥漫性轴索损伤（diffuse axonal injury,DAI）是创伤性颅脑损伤（traumatic brain injury,TBI）中的一种特殊亚型,过去认为其是导致外伤患者严重致死致残或植物存活的主要原因[1]。但随着对其研究的深入,特别是超高场（3T）磁共振成像新技术包括结构成像技术[如磁敏感加权成像（susceptibilityweighted imaging,SWI）、磁共振弥散张量成像（diffusion tensor imaging,DTI）及纤维束示踪成像技术（fiber tractography,FT）]和功能成像技术[如磁共振波谱（magnetic resonance spectroscopy,MRS）、血氧水平依赖性blood．oxygen．1evel．dependent，BOLD）功能磁共振成像（functional magnetic resonance imaging，fMRI）及动脉自旋标记（arterial spin labeling，ASL）灌注成像]的进步和应用。提高了CT及常规MRI检查显示微小病灶和微结构损伤的检出率．可以发现传统成像技术难以显示的功能改变：不仅提高了对DAI疾病的诊断率（特别是增加轻中度DA!患者的检出），而且很大程度上改善了对DAI患者病理生理机制的认识。现笔者就较常见的此几种磁共振成像新技术在DAI的研究进展和应用进行综述。