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基于ARM的数字集成电路测试系统的研究
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3
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摘要
本文重点研究基于ARM内核实现的高精度、低成本、速度快、易操作且具有良好可扩展性的对中小规模集成芯片进行测试的数字集成电路测试系统。测试系统可以完成功能测试、接触性测试、直流参数测试和交流参数测试等测试项目。
作者
王文波
机构地区
哈尔滨商业大学计算机与信息工程学院
出处
《电子技术与软件工程》
2014年第24期113-113,共1页
ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
关键词
ARM
数字集成电路
测试系统
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子技术与软件工程
2014年 第24期
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