基于ARM的数字集成电路测试系统的研究

本文重点研究基于ARM内核实现的高精度、低成本、速度快、易操作且具有良好可扩展性的对中小规模集成芯片进行测试的数字集成电路测试系统。测试系统可以完成功能测试、接触性测试、直流参数测试和交流参数测试等测试项目。