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金属电极玻璃封装器件安装强度试验方法研究 被引量:2

Research on Test Methods for Bond Integrity of Metal Electrode Leadless Face Diode
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摘要 介绍了金属电极玻璃封装器件质量评价中存在的问题,确定了引起器件失效的外部应力、内部应力、挤压应力等因素,以及评价金属电极无引线玻璃封装器件安装强度的温度循环试验、弯曲试验和扭曲试验三项试验条件。 This paper introduces the mechanism of installed devices and leadless face diode problems in the provides three quality evaluation of metal electrode leadless, identifies the failure test methods for evaluating the bond integrity of metal electrode
作者 张秋
出处 《信息技术与标准化》 2014年第11期51-53,78,共4页 Information Technology & Standardization
关键词 金属电极玻璃封装器件 安装强度 试验方法 metal electrode leadless face diode bond integrity test methods
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献2

  • 1“塑封微电路主要的失效模式及机理分析”,范士海,龙承武,邵觉晴,2007年10月,都江堰;中国电子学会可靠性分会,第十二届全国可靠性物理学术讨论会.
  • 2“PBGA焊点开路失效原因分析及工艺改进措施”,范士海,2008年11月,海南岛;中国电子学会可靠性分会,第十四届可靠性学术年会.

共引文献3

同被引文献7

引证文献2

二级引证文献3

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