期刊文献+

基于85671 A单边带相位噪声自动测试的实现

原文传递
导出
摘要 本文在简要探讨了相位噪声的定义和测试方法的基础上,重点分析了频谱分析仪测试相位噪声的原理及关键技术;研究了HP/Agilent公司的频谱分析仪相位噪声测试选件85671A实现自动测试的难点和解决办法,最后给出了基于85671A实现SSB相位噪声自动测试的具体实现,解决了85671A不能用于自动测试的难题;结果表明这是一种更加高效准确的单边带相位噪声测试方法。
出处 《计量技术》 2015年第2期41-44,共4页 Measurement Technique
  • 相关文献

参考文献10

二级参考文献17

  • 1陈国龙.相位噪声及其测试技术[J].今日电子,2005(4):40-41. 被引量:2
  • 2秦顺友.频谱仪测量低电平的精度研究[J].电子学报,1995,23(3):108-111. 被引量:3
  • 3张汝波,何立刚,李雪耀.强噪声背景下莫尔斯信号的自动检测与识别[J].哈尔滨工程大学学报,2006,27(1):112-117. 被引量:26
  • 4杨祥林.微波器件原理[M].北京:电子工业出版社,1991..
  • 5B U 西福罗夫.无线电接收设备(上册)[M].北京:高等教育出版社,1987.
  • 6罗宾斯.相位噪声[M].秦士,姜遵富,译.北京:人民邮电出版社,1988:80-86.
  • 7Agilent Technologies.Agilent VISA Users Guide for IO Libraries Suite[M],2009.
  • 8RAUSCHERC.频谱分析原理[M].慕尼黑:罗德与施瓦茨公司,2006.
  • 9莫特钦巴切尔.低噪声电子设计[M].北京:国防工业出版社,1977.
  • 10E5500 相位噪声测试系统技术说明书

共引文献41

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部