大规模芯片测试系统研究

本文的研究旨在提出一种测试系统,针对芯片大量测试的问题进行实时管理,将测试过程细分为多个步骤和模块,对芯片测试的不同阶段进行管理,层次化管理状态监控,将测试流程和数据结构细分。实验结果表明,这种方法下能够产生较少的测试数据,消耗时间较少,对大规模芯片测试的实时问题有着良好的解决效果。