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光学超分辨成像精度破极限达4．1纳米

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摘要中国科大郭光灿院士领导的中科院量子信息重点实验室孙方稳研究组，利用光学超分辨成像技术实现了对单个自旋态的纳米量级空间分辨率测量和操控，其成像精度达到4.1纳米。研究成果1月2日发表在《自然》子刊《光：科学与应用》上。

出处《中国科技财富》 2015年第1期8-8,共1页 China Science and Technology Fortune Magazine

关键词光学超分辨纳米量级成像精度极限重点实验室分辨率测量量子信息中国科大

分类号 O171 [理学—基础数学]

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