跨尺度微纳米测量仪的开发和应用重大仪器专项启动

3月20日,国家重大科学仪器设备开发专项＂跨尺度微纳米测量仪的开发和应用＂项目首次工作会议在上海市计测院举行。国家质检总局科技司副处长谢正文主持会议,清华大学院士金国藩、同济大学院士李同保、上海理工大学院士庄松林,国家质检总局科技司副司长王越薇、市质监局总工程师陆敏、市科委处长过浩敏等专家和领导出席会议。