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集成电路芯片合金烧结工艺FMEA应用分析 被引量:2

Study on polymer adhesive die bonding FMEA
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摘要 集成电路的可靠性是电子系统稳定可靠工作的基础,随着武器装备电子系统对可靠性及使用期的要求不断提高,对于集成电路的质量和可靠性以及贮存寿命期提出了更高要求。通过开展集成电路芯片合金烧结工艺FMEA应用分析,找出合金烧结芯片影响集成电路质量的因素,有效提高了芯片合金烧结工艺质量,消除缺陷,获得高使用可靠性的产品。 The reliability of IC is the basis for stable and reliable electronics systems. With the increasing requirements for reliability and service life of weapon electronics systems,the higher quality and reliability as well as storage life of integrated circuits are required. The analysis is conducted for IC chip alloy sintering process FMEA application,the factors affecting IC chip quality are identified to effectively improve the quality of the alloy sintering process,eliminate defects and obtain the high serviceability products.
作者 刘洪涛
出处 《微处理机》 2015年第2期15-17,共3页 Microprocessors
关键词 集成电路芯片 可靠性 合金烧结 失效模式影响分析 IC Reliability Alloy sintering FMEA(Failure Mode and Effects Analysis)
  • 相关文献

参考文献3

  • 1张增照,李铁华,朱启新,等.GB/T7826—1987,失效模式和效应分析(FMEA)程序[S].北京:中国标准出版社,1987.
  • 2刘品.可靠性工程基础[M].北京:中国计量出版社,1999..
  • 3RichardK.Ulrich,WilliamD.Brown,著.高级电子封装[M].李虹,张辉,郭志川,等译.北京:机械工业出版社,2010.

共引文献3

同被引文献6

引证文献2

二级引证文献1

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