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基于VLD终端的光刻对准标记工艺设计

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摘要 采用VLD终端的半导体器件,在工艺流程上首先需要进行终端制备,然后进行有源区的制备,这就需要在终端制备工艺结束之后,留下后续工艺制造所需要的光刻对版标记,本文设计了一种可以实现套刻的光刻对版标记的工艺,并给出了工艺实现的条件。
出处 《山东工业技术》 2015年第11期269-270,共2页 Journal of Shandong Industrial Technology
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参考文献1

二级参考文献1

  • 1陈星弼.p-n+结有场板时表面电场分布的简单表示式[J]电子学报,1986(01).

共引文献3

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