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仿真功耗下的旁路信息泄露研究
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摘要
功耗分析已成为密码芯片旁路测试的重要手段。为了在电路设计阶段验证防护措施的有效性,通常设计者会利用功耗仿真工具或FPGA来测量电路功耗,然后进行旁路分析。本文通过理论和实验结合,以分组密码算法DES为例,深入分析密码电路各组成部分的功耗特征,揭示已有防护措施旁路信息泄露的原因,并提出了泄露可控的电路实现方式。
作者
王莉菲
顾海华
刘军荣
郭筝
机构地区
上海华虹集成电路有限责任公司
上海交通大学
出处
《集成电路应用》
2015年第6期30-33,共4页
Application of IC
关键词
集成电路设计
密码芯片
旁路功耗分析
仿真功耗
掩码防护
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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集成电路应用
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