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基于UVM验证方法学的RF基带模块验证
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摘要
引言验证最基本的目的在于测试被测对象DUT的正确性,其最常用的方法就是给DUT施加各种不同的激励,并观测DUT的输出结果,把此结果与期望值相比较,判断DUT正确与否。近年来,随着集成电路设计向超大规模发展,芯片验证工作变得越来越复杂和困难,根据许多业内文献报道,验证的工作量已经占到整个芯片开发的70%左右,因此提高芯片验证的效率已变得至关重要。
作者
何冬明
机构地区
上海坤锐电子科技有限公司
出处
《今日电子》
2015年第2期79-82,共4页
Electronic Products
关键词
芯片开发
验证工作
测试用例
RF
UVM
文献报道
验证平台
模块结构
EEPROM
sequencer
分类号
TN92 [电子电信—通信与信息系统]
引文网络
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