中国计量测试学会科学技术进步奖表彰大会在京举行

一年一度的计量测试领域的盛会——中国计量测试学会科学技术进步奖颁奖大会,5月20日至21日如期在北京召开。国家质检总局副局长梅克保、孙大伟、王炜、吴清海、张沁荣以及党组成员、人事司司长李元平、总检验司项玉章、总工程师刘兆彬等局领导,中国计量测试学会理事长蒲长城以及国务院相关部委、计量测试领域的院士、专家、学者共有1000多人,齐聚一堂,共同见证中国计量测试学会科学技术进步奖颁奖盛典。