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PowerPC8641处理器模块的自检测设计 被引量:2

Design of Build- in Test for PowerPC8641 Processor Module
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摘要 机内自检测对嵌入式系统中的处理器模块具有重要意义。为保证系统能够安全、可靠地工作,需要对硬件资源进行自检测试,并基于测试需求,选取了Power PC8641处理器模块为硬件平台,以CPU、RAM存储器及FLASH存储器为例,根据其不同的硬件特性分别分析了故障特征,给出相应的测试方法,形成一整套测试方案,并结合测试结果,进行了测试性验证与分析,验证了测试方案的可行性。 Build- in Test software is important for the processor module of embedded systems. To ensure the system work safely and reliably,we need self- check test for hardware resources,select Power PC8641 processor module as hardware platform,take CPU,RAM and FLASH as examples,analysis fault properties according to hardware characteristics,present test methods,and propose a set of test scheme,verifies and analyses the testability according to the test results. The experiment proves that the test scheme feasible.
作者 刘洋 孙允明
出处 《航空计算技术》 2015年第3期119-122,126,共5页 Aeronautical Computing Technique
基金 中航工业技术创新基金项目资助(2013D63125R)
关键词 BIT 测试性 嵌入式系统 功能故障模型 build- in test testability embedded systems function fault model
  • 相关文献

参考文献8

二级参考文献35

  • 1鉴海防,王占和,李印增,张昭勇.SoC嵌入式flash存储器的内建自测试设计[J].微电子学与计算机,2005,22(4):87-91. 被引量:8
  • 2石永山,王大海,李慧滨.机载电子设备自动测试设计[J].光电技术应用,2005,20(5):33-36. 被引量:3
  • 3胡一飞,徐中伟,谢世环.NAND Flash上均匀损耗与掉电恢复在线测试[J].单片机与嵌入式系统应用,2007,7(3):5-8. 被引量:7
  • 4杨为民等.可靠性、维修性、保障性总论[Z].1995.
  • 5甘茂治等.军用装备维修性工程学[Z].1999.
  • 61陆延孝等.可靠性设计与分析[Z].1995.
  • 7傅光民等.可靠性管理[M].北京:人民邮电出版社,1993.
  • 8胡昌寿.可靠性工程[M].北京:宇航出版社,1998.
  • 9[1]Mohammand Gh.Mohammand,Laila Terlawi.Fault Collapsing for Flash Memory Disturb.Proceeding of the European Test Symposium.2005.
  • 10[2]Jen-Chieh,Chi-Feng Wu,Kuo-liang Cheng,Yung-Fa Chou,Chin-Tsun Huang and Cheng-Wen Wu,"Flash memory built-in self using March-like algorithms," Proc.IEEE International Workshop on Electronic Design,Test and Application,29-31 Jan.2002,pp,137-141.

共引文献50

同被引文献10

引证文献2

二级引证文献1

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