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γ射线照相底片质量的正交试验研究
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摘要
工业γ射线照相检测,底片质量受诸多因素影响。本文采用正交设计试验研究,寻找主要因素及最优方案,提高和完善了γ射线照相检测工艺。
作者
胡锡宁
张占霞
杨波
赵刚
罗俊宁
机构地区
陕西西宇无损检测有限公司
陕西缔邦工贸管理有限公司
出处
《无损探伤》
2015年第3期21-24,28,共5页
Nondestructive Testing Technology
关键词
γ射线照相
正交试验法
底片清晰度
特性指标
分类号
TG115.28 [金属学及工艺—物理冶金]
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无损探伤
2015年 第3期
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