X射线荧光光谱分析在地质分析中的应用

X射线荧光光谱分析(XRF)是一种利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(二次X射线),从而对样品进行化学成分定性分析和定量研究的方法。XRF已成为现代仪器分析技术中的一种常规且非常重要的方法,广泛应用于冶金、地质、有色、建材等各个领域,本文主要介绍X射线荧光光谱分析的原理及其在地质分析中的应用。