X射线数字成像技术在GIS检测中的应用研究

目前GIS设备的常用检测方法主要包括超声波局部放电检测法、超高频局部放电检测法及SF6分解物检测法。运用此类方法对GIS设备进行诊断时,检测人员一般只能给出大致的判断,但也有可能漏判或误判。本文在分析GIS设备缺陷及故障的基础上,通过介绍X射线数字成像技术,提出将X射线数字成像技术运用到GIS设备的缺陷检测,以实现对GIS设备的可视化检测。同时运用X射线数字成像技术,通过实验室内的缺陷模拟装置,对异物类、装配类及材料类三类缺陷进行了检测,确定了X数字成像在GIS检测中的检测范围。实验结果表明:X射线数字成像技术可对GIS设备的大部分缺陷进行可视化检测,从而验证了该方法的有效性。