新生儿低血糖引起脑损伤的基本特点及危险原因探析

目的:探究分析新生儿低血糖引起脑损伤的基本特点及危险原因。方法:选取2012年5月-2014年5月广州市荔湾区妇幼保健院收治的86例新生儿低血糖患儿作为研究对象,将发生脑损伤现象的患儿作为研究组,未发生脑损伤现象的患儿作为对照组,对两组患儿的血糖检查结果、围产期相关因素以及临床症状表现等进行总结性的对比分析。结果:Logistic分析显示,脑电图异常、低血糖维持的时间在24 h以上、血糖水平在1.5 mmol/L及其以下都和新生儿低血糖引起脑损伤密切相关;单因素研究显示,惊厥、胎龄、血糖水平、低血糖的维持时间、脑电图异常等与新生儿低血糖引起脑损伤有明显的联系,差异有统计学意义(P<0.05)。结论:惊厥、低血糖维持的时间在24 h以上、脑电图异常、血糖水平在1.5 mmol/L及以下都是新生儿低血糖引起脑损伤的重要危险原因,应尽早干预治疗。