期刊文献+

数字集成电路测试技术应用分析 被引量:7

下载PDF
导出
摘要 本篇文章大体讲述了数字集成电路测试技术的基础组成部分,在现阶段中数字集成电路测试中高规格的基本操作原理等。针对这些测试原理对各种各样的测试系统进行不同的语言测试以及编程等,另一方面对数字集成电路方面的技术测试所迎接的现状及日后形势等进行了简要的解析。
机构地区 西北工业集团
出处 《电子制作》 2015年第10期92-92,共1页 Practical Electronics
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献6

  • 1IEEE 1149.1. IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture[S]. 2001.
  • 2IEEE 1149.4. IEEE Standard for a Mixed Signal Test Bus[S]. 1999.
  • 3IEEE 1149.5. IEEE Standard Module Test and Maintenance (MTM) Bus Protocol[S]. 1995.
  • 4IEEE P1500. IEEE Standard for Embedded Core Test[EB/OL]. http://grouper. ieee. org/groups/1500/.
  • 5NEXUS 5001 Forum[EB/OL]. http://www, ieee-isto. org/Nexus5001/about. html.
  • 6陈光(礻禹).可测性设计技术[M].北京:电子工业出版社,1997..

共引文献12

同被引文献21

引证文献7

二级引证文献28

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部