测量Ga0.95Mn0.05As薄膜材料磁学性质的实验系统——基于反常霍尔效应和表面磁光克尔效应
摘要
利用反常霍尔效应和磁光克尔效应,我们搭建了一套可以自动完成数据采集的电学和光学测试系统,成功表征了厚度为20 nm的Ga（0.95）Mn（0.05）As薄膜的磁性行为。进一步地综合比较了对同一个薄膜样品中极向、纵向磁光克尔效应与反常霍尔效应在测量上的优劣,为弱磁性材料磁学性质的测量提供了有益的参考。
出处
《物理教学》
2015年第10期2-7,共6页
Physics Teaching
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