摘要
采用数值方法计算了掺杂浓度为1016cm-13的N型晶体硅费米能级随温度(O800K)的变化曲线,并讨论了禁带宽度随温度变化时对费米能级的影响。计算结果显示,在温度0K〈R100K的低温弱电离区间,费米能级随温度的升高而逐渐增大;温度约为100K时,最大费米能级位于导带底以下0.059eV处;温度在100K〈T〈700K范围内几乎呈线性下降;温度大于700K时,费米能级逐渐趋于平缓,接近本征半导体硅的费米能级。这些结论与实验吻合。
出处
《太阳能》
2015年第9期43-45,共3页
Solar Energy