X射线荧光光谱压片法测定氧化铝中的Fe_2O_3和SiO_2的含量

采用粉末压片法制样,X射线荧光光谱压片法测定氧化铝中的Fe2O3、Si O2含量,并对分析过程中样品制备、颗粒效应、测量条件等各个环节进行了研究。用4种标样对此方法的准确度进行验证,结果表明所得测定值与已知值之间的误差均符合标准规定。对所提出方法的精密度进行了考核,结果表明所有测定结果的RSD值均小于10%,测量一个样品所需时间仅3 min,具有准确、快速、简便的特点,能满足氧化铝中Fe2O3和Si O2分析的需要。