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产品开发过程中的EMC设计 被引量:1

EMC design in product development
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摘要 传统电子产品的开发设计思路是产品成型后再进行一系列的测试,通过测试判定产品是否符合各项指标的要求,但是这种设计思路存在的弊端是只能等产品成型后再进行验证,项目周期会非常长,同时一旦产品验证失败,需要进行一系列的整改、测试,这样对于整个项目的周期、成本都是非常大的浪费。本文主要是从项目开发的并行角度阐述如何结合EMC设计到开发过程中,来解决这一设计管理问题。
作者 马海军
出处 《电子产品世界》 2015年第11期39-41,共3页 Electronic Engineering & Product World
  • 相关文献

参考文献4

  • 1IEC61000—6—2—2005通用标准工业环境的抗扰度标准.
  • 2IEC61000-6—4—2007通用标准工业环境糖囊寸标准.
  • 3IEC61000—4—2—2006静电放电抗扰度试验.
  • 4IEC61000—4—4—2008电快速瞬变脉冲群抗扰虞试验.

同被引文献2

引证文献1

二级引证文献1

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