新生儿低血糖导致脑损伤的高危因素及临床特征

目的：探讨新生儿低血糖导致脑损伤的高危因素及临床特征。方法选取2014年1月～2014年12月130例新生儿低血糖患儿，105例无脑损伤的患儿为对照组，25例有脑损伤的患儿为观察组，多因素 Logistic 回归分析新生儿脑损伤的高危因素。结果单因素分析显示胎龄、出生体重、妊娠糖尿病、开奶时间、低血糖持续时间及血糖水平、惊厥、EEG（脑电图）异常与脑损伤有关（P ＜0.05）；多因素 Logistic 回归分析显示低血糖持续时间＞24 h、血糖≤1.5 mmol/L、惊厥、EEG 异常与低血糖脑损伤有关。结论低血糖持续时间＞24 h、血糖≤1.5 mmol/L、惊厥、EEG 异常与脑损伤相关，应及早纠正。