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Mentor Graphics最新Tessent ScanPro产品在测试数据量压缩方面实现巨大飞跃

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摘要 Mentor Graphics公司近日宣布推出新款Tessent ScanPro产品，该产品采用的技术可以显著提升使用Tessent Test Kompress ATPG压缩解决方案实现的测试模式容量的节省。由于测试模式的容量很大程度上决定了测试集成电路的成本和时间，

出处《中国集成电路》 2015年第11期5-5,共1页 China lntegrated Circuit

关键词 GRAPHICS 测试模式产品压缩数据量 ATPG 集成电路容量

分类号 TN929.53 [电子电信—通信与信息系统]

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中国集成电路

2015年第11期

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