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新一代65纳米测试芯片

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摘要英特尔日前宣布,公司研制出采用65nm技术的试验性芯片,并预计在2005年将成为首家生产这种芯片的厂商。目前广泛应用的芯片为130nm;而90nm芯片则预计明年初量产。英特尔称,其静态随机存取内存测试芯片上的晶体管极小,在仅一平方毫米的面积上,

作者郑冬冬

出处《半导体信息》 2004年第2期28-28,共1页 Semiconductor Information

关键词随机存取内存平方毫米测试产品

分类号 TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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2004年第2期

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