Agilent Infiniium 9000系列荣膺EDN China最佳测试与测量产品创新奖
出处
《半导体信息》
2010年第1期6-6,共1页
Semiconductor Information
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12005年度EDN China创新奖揭晓[J].电子设计技术 EDN CHINA,2005,12(12):42-42.
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2Agilent测试和测量产品入选EDN杂志“2004年百项热门产品”——Agilent VEE Pro,13GHz示波器和FPGA动态探头入选[J].电子测量技术,2005,28(1):80-80.
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3德州仪器荣膺EDN亚洲年度最佳器件奖[J].集成电路应用,2003,20(2):18-19.
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4盛柏桢.潮州创佳跨入微电子领域[J].半导体信息,2003,0(2):24-25.
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5安捷伦低成本测量解决方案助力全球客户行业发展[J].微计算机信息,2006(10X):325-325.
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6NI发布2009年测试与测量发展趋势[J].世界仪表与自动化,2009(3):10-10.
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7赵应诚:当务之急是帮助大陆IC设计业走向成熟[J].电子设计技术 EDN CHINA,2008(8):40-40.
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82004第64CEF暨第三届国际电子测试与测量研讨会[J].测控技术,2005,24(1):28-28.
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9杨雪梅.2004第64CEF暨第三届国际电子测试与测量研讨会报导[J].中国仪器仪表,2005(1):88-88.
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10Agilent34405A 5位半多用表填补行业应用空白[J].中国测试技术,2007,33(1):144-144.
