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IEC/TC65年会2015'测控技术与智能制造国际研讨会专家观点、论述摘编

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摘要 2015年10月29日,正值国际电工委员会测量控制和自动化技术委员会(IEC/TC65)年会期间,由全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会(SAC/TCl24)秘书处、大连理工大学联合主办,机械工业仪器仪表综合技术经济研究所(ITEI)技术推广中心承办的“测控技术与智能制造国际研讨会”在大连成功举办。
作者 李玉敏
出处 《中国仪器仪表》 2015年第11期32-42,共11页 China Instrumentation

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