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GaAs红外发光管的退化规律和机理

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摘要 本文讨论了 GaAs 红外发光二极管加速退化试验结果。观察到四种类型的退化方式,讨论了描述退化过程的数学表达式。器件的退化是由于暗线和暗点缺陷的产生。
作者 于瑞祥
出处 《半导体光电》 CAS 1980年第1期18-23,17,共7页 Semiconductor Optoelectronics
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