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LPCVD-Si_3N_4在铝下钝化工艺中的应用
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摘要
由于Si3N4薄膜具有结构致密,介电强度高,介电常数大、化学性能稳定等优点,因此Si3N4薄膜在大规模集成电路制造工艺中具有很重要的用途,它在局部氧化工艺中作为场氧化掩膜,在高温下能掩蔽B、Al、As、O等杂质扩散,能有效地防止N+、K+等离子的沾污,更是它突出的优点。
作者
张崇玖
王亦钢
王明珍
机构地区
南通晶体管厂
出处
《半导体技术》
CAS
1987年第3期58-61,共4页
Semiconductor Technology
关键词
LPCVD-Si3N4
钝化工艺
钝化处理
刻蚀工艺
SI
分类号
TN3 [电子电信—物理电子学]
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半导体技术
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