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日本东芝公司推出最新射频绝缘体上硅(SOI)技术
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摘要
东芝电子公司欧洲公司近期发布了新一代绝缘体上硅技术,命名为TarfSOI,升级后的新技术可以应用于射频开关。射频开关集成电路,例如新款单极12掷开关,就是采用新型TaRF8工艺制成的,据称在2.7GHz条件下具有行业内最低水平的插入损耗,仅为0.32dB。与东芝公司目前采用TaRF6工艺生产的产品相比较,插入损耗降低0.1dB。
作者
科信
出处
《半导体信息》
2015年第6期33-33,共1页
Semiconductor Information
关键词
绝缘体上硅
SOI
插入损耗
东芝公司
射频开关
欧洲公司
传输器
移动通信设备
智能电话
手机应用
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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