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晶体硅光伏组件EL检测出的黑片缺陷失效分析 被引量:3

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摘要 主要针对晶体硅太阳电池在生产过程、实验室测试和实际运行的不同阶段所观察到的4种不同类型的缺陷黑片,通过红外线(IR)、电致发光(EL)、反向偏压致发光(ReBEL)和能谱仪(EDX)等手段进行研究、分析,找出这些黑片缺陷产生的根本原因。
出处 《太阳能》 2015年第12期26-31,共6页 Solar Energy
  • 相关文献

参考文献3

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  • 2Koentges M, Siebert M, Hinken D, et al. Quantitative analysis of PV-modules by electroluminescence images for quality control[A]. 24st European Photovoltaic Solar Energy Conference[C], Hamburg, Germany, 2009, 21 - 24.
  • 3IEC 61215-2005.Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules-Design qualifcation and type approval[S].

同被引文献14

引证文献3

二级引证文献6

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