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基于专用芯片的电路模块嵌入式测试信息获取技术
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摘要
本文提出一种基于专用芯片的数字、模拟和射频微波电路嵌入式测试信息获取方法,作为装备故障预测与健康管理(PHM)最为基础的数据采集的一种手段,解决装备中测试性设计不足或各种BIT电路消耗资源较多、连接复杂、信息获取困难等难题。文中介绍了数字、模拟、射频微波电路嵌入式测试专用芯片的设计思路及利用其进行嵌入式测试硬件与软件设计方法,最后对嵌入式测试设计进行了验证。
作者
李智
刘明军
邹芳宁
机构地区
中国电子科技集团公司第四十一研究所
出处
《电子世界》
2016年第3期151-157,共7页
Electronics World
关键词
嵌入式测试
PHM
BIT
信息获取
边界扫描
测试性设计
分类号
TN7 [电子电信—电路与系统]
引文网络
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