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摘要
西克纳米级光谱共焦法位移传感器OCSharp上市。OCSharp属于短距离激光测距(也叫位移传感器)产品,其测量基于“光谱分析”原理,是和原OD系列采用的“三角测量法”原理完全不同的最新技术。SICK提供“光谱共焦”和“光谱干涉”2种测量原理的测量头,精度可以达到纳米(10^-9 m)级(即分子水平),是目前全球最高精度的非接触式测量传感器之一。
出处
《现代制造》
2015年第50期75-76,共2页
Maschinen Markt
关键词
产品推荐
位移传感器
光谱分析
测量原理
三角测量法
测量传感器
激光测距
最新技术
分类号
TN912.271 [电子电信—通信与信息系统]
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现代制造
2015年 第50期
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