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2016第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议征文通知(ISTAI'2016)

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摘要 由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学主办的“2016第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议”于2016年9月19~21日在中国北京举办。会议旨在为自动化测试与仪器领域的专家学者、科研人员、技工程师搭建了解测试测量领域国际前沿技术的平台,研讨面向工业4.0和互联网+的智能测控技术,
出处 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2016年第1期F0003-F0003,共1页 Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

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