期刊文献+

全离子注入在双极集成电路中的应用

下载PDF
导出
摘要 本文研究了用全离子注入控制双极集成电路中晶体管电参数的一些基本条件。研究了磷注入发射区的条件:注入能量为50KeV,注入剂量为4×10^(16)/cm^2。退火条件为940℃,20分钟,氮气保护,基区采用二次硼叠加注入:浅硼注入和深硼注入。浅硼注入能量为60KeV,注入剂量为8×10~3/cm^2。深硼注入能量分别为120KeV、140KeV、160KeV、180KeV,注入剂量均为5×10^(13)/cm^2。退火为960℃,30分钟,氮气保护等温退火。研究了注入条件和退火条件与双极电路管芯电参数(如电流增益h_(FE),管子基极—发射极击穿电压BVebo。基区方块电阻R_□和管子特征频率f_(Τo))的关系。
出处 《北京师范大学学报(自然科学版)》 CAS 1978年第2期10-18,共9页 Journal of Beijing Normal University(Natural Science)
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部