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集成电路可测试性的设计与实现 被引量:1

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摘要 集成电路在现代生活中占有极其重要的地位,可测试性是集成电路发展过程中十分重要的一个方面。本文从集成电路测试的作用和特点出发,分析了集成电路可测试性的设计方法以及实现过程,所得结果可以作为相关方面的参考。
作者 马华泽
机构地区 吉林大学
出处 《电子技术与软件工程》 2016年第6期136-136,共1页 ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
  • 相关文献

参考文献1

  • 1Alfred L.Crouch.数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计[M].北京:中国电力出版社,2004.

同被引文献2

引证文献1

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