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集成电路可测试性的设计与实现
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摘要
集成电路在现代生活中占有极其重要的地位,可测试性是集成电路发展过程中十分重要的一个方面。本文从集成电路测试的作用和特点出发,分析了集成电路可测试性的设计方法以及实现过程,所得结果可以作为相关方面的参考。
作者
马华泽
机构地区
吉林大学
出处
《电子技术与软件工程》
2016年第6期136-136,共1页
ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
关键词
集成电路
可测试性
测试
设计
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子技术与软件工程
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