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X-射线荧光光谱法测定萤石中的氟化钙、二氧化硅含量 被引量:2

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摘要 应用X-射线荧光光谱法(XRFS)测定了萤石中氟化钙、二氧化硅含量,通过化学法测定萤石中可溶于弱酸的钙量,从总钙量中减去,得出氟化钙中的钙量,从而求得氟化钙含量。方法的精密度和准确度良好,能满足生产要求。
作者 张婕 罗文
出处 《技术与市场》 2016年第4期215-215,217,共2页 Technology and Market
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