光电高温计的光学系统设计

辐射源尺寸效应(SSE)是光电高温计辐射测温的重要不确定度来源之一。文章设计了660nm和900nm双波段光电高温计光学系统来仿真分析SSE对测量精度的影响。光学系统模拟了观察光路和探测光路两条光路,前端共用透射式物镜结构,能够对700mm处直径1mm目标源成像,后端经过视场光阑和反射镜分光后进入二次成像的观察光路和探测光路。Code V和Light Tools的仿真结果显示,观察光路成像质量满足要求,探测光路的点列图接近衍射极限,光斑均匀性良好,满足试验要求。