摘要
集成电路的故障测试与诊断是集成电路研究的一项重要课题,随着科技的不断进步,集成电路也告别了传统的电压模式,向数字化集成方向发展,这对于集成电路测试与故障诊断提出了更高的要求。传统的电压诊断方法只能检测出集成电路出现问题,但是对于出现问题的地方并不能进行准确定位,通过电压诊断过后还需要进行人工仔细的测试,通过测试结果来确定出现故障的地方,对于集成电路的维修效率造成了极大的阻碍。因此,文章将主要分析集成电路的测试与故障斩断方法研究,同时作者通过自身所学,为大家介绍几种新的集成电路测试与争诊断方法。
出处
《科技创新与应用》
2016年第13期97-97,共1页
Technology Innovation and Application