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EL测试在晶硅电池及组件质量控制中的应用 被引量:2

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摘要 基于电致发光(Electroluminescence,EL)的理论,本文介绍了利用近红外检测的方法,检测出了晶体硅太阳电池和组件内部常见的隐性缺陷。这些缺陷包括:材料缺陷、高温扩散缺陷、金属化缺陷、高温烧结缺陷、工艺诱生污染以及生产过程中的裂纹等,并简要分析了造成这些缺陷的原因,通过EL测试可以发现以往常规手段难以发现的品质缺陷,对电池品质提升大有裨益。
出处 《电子世界》 2016年第8期162-163,16,共2页 Electronics World
  • 相关文献

参考文献5

  • 1Y.Takahashi,Y.Kaji,A.Ogane,Y.Uraoka and T.Fuyuki,"-Luminoscopy-Novel Tool for the Diagnosis of Crystalline Silicon solar cells and Modules Utilizing Electroluminescence",IEEE,2006,pp.924-927.
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  • 3Takashi Fuyuki,Yasue Kaji,Akiyoshi Ogane,and Yu Takahashi,"ANALTIC FINDINGS IN THE PHOTOGRAPHICCHARACTERIZATION OF CRYSTALLINESILICON SOLAR CELLS USINGELECTROLUMINESCE NCE",IEEE,2006,pp.905-907.
  • 4C.P.Chen,Analytical Determination of Critical Crack Size in Solar Cells JPL Publication 88-19[4].
  • 5David Hinken,Klaus Ramspeck,Karsten Bothe.Series resistance imaging of solar cells by voltage dependent electroluminescence[J].J.Appl.Phys,2007,91,182104.

同被引文献11

引证文献2

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