DRAM中一种减少电压端口的方法

本文介绍了一个应用于DRAM芯片中减少电压端口的方法。通过分时复用的办法,实现了一个电压端口既能检测内部电压,又能置入外部电压,而且可以实现置入多个外部电压的功能,大大减少了DRAM芯片中电压端口的数目,降低了DRAM前端测试卡的设计复杂度,大幅度提高了前端测试的同测率,降低了DRAM芯片前端测试的费用。