基于嵌入式的IC芯片外观质量检测系统设计

为解决人工检测集成芯片引脚存在的诸多弊端,设计一套基于ARM-DSP双核结构的集成芯片引脚缺陷自动检测系统。采用阈值分割算法提取芯片引脚目标,通过灰度跃变检测引脚中心点,并统计引脚中点间距以识别芯片引脚缺陷;设计实现图像采集电路、图像处理电路和其他外围控制电路等,并进行实验研究。实验结果表明设计的系统检测速度快,检测精度高。