摘要
Y98-61413-356 9904594设计初期专用集成电路制造测试成本的预测=ASICmanufacturing test cost prediction at early design stage[会,英]/Kim,V.-K.& Chen,T.//1997 IEEE Inter-national Test Conference.—356～361(PV)介绍一种在制造环境中估计 IC 测试成本用的测试成本预测模型。这种模型采用电路制造参数集预测芯片测试成本和测试质量。
出处
《电子科技文摘》
1999年第4期41-42,共2页
Sci.& Tech.Abstract
