失效物理

Y98-61305-311 9905617可靠性(含7篇文章)=Session 10:reliability[会,英]//1997 Proceedings of the International SemiconductorConference,Vol.2.—311～338(UV)本部分的7篇论文的题目是:近竹形互连的早期电阻变化和应力/电迁移的演变,氧化的硅 p-n 结中质子辐射感生的缺陷,利用电子辐射改进半导体二极管恢复特性的方法,寿命鉴定设备用半导体器件可靠性保证的老化测试,p-n 结表面区对硅瞬时电压抑制器的峰值脉冲功率的影响,汽车用二极管的一种筛选方法。