自动测试及其系统

Y98-61413-539 9906435基于机内自测的现场可编程序门阵列逻辑块诊断学=BIST-based diagnostics of FPGA logic blocks[会,英]/Stroud,C.& Lee,E.//1997 IEEE International TestConference.—539～547(PV)精确诊断是众多测试环境的基本要求,因为它是用于芯片或系统容错的任何修理或替换策略的基础。本文介绍了具有最高诊断分辨率的现场可编程门阵列(FPGA)中有故障可编程逻辑块(PLB)的诊断方法。这种方法以 FPGA 用的新机内自测(BIST)结构为基础,能够精确地确定任何单个或多个有故障 PBL 的位置。利用自适应诊断策略,测试时间内的有故障 PLB鉴别率可提高7%。