摘要
Y98-61379-382 9908771伪随机测试的失效级分析的随机方法=A stochasticmethod for defect level analysis of pseudorandom testing[会,英]/Jone,W.-B.& Das,S.R.//1998 Proceed-ings of the 11th International Cmnference on VLSI De-sign.—382～385(IG)新型精密铂电阻测温方法(见9909704)反射对湿度测定用的微波衰减测量的影响(见9909598)一种海洋表面矢量流图生成算法的研究(见9909224)用于密封液体的磁流体转轴动密封(见9909103)简体缺陷区的应力分析(见9909089)
出处
《电子科技文摘》
1999年第7期3-5,共3页
Sci.& Tech.Abstract
