可靠性基础、质量管理与控制

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摘要 9914765基于软件差错相关的可靠性增长模型[刊]/赵玮//西安电子科技大学学报.—1999,26(3).—286～289,296(D)通过考虑软件中差错的相关性,讨论了一种基于NHPP 的新的软件可靠性增长模型,并以 MLLF、AIC和均方误差为准则,将该模型与普通 S 型可靠性增长模型和延迟 S 型可靠性增长模型做了比较,得出了较为满意的结果。

出处《电子科技文摘》 1999年第10期5-6,共2页 Sci.& Tech.Abstract

关键词软件可靠性增长模型管理与控制电子产品可靠性电子科技大学学报均方误差软件差错相关性质量延迟准则

分类号 TN [电子电信]

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